一托二低温、中温黑体 SC-YTE系列
SC-YTE-DG 低温、中温黑体辐射源是红外辐射工作标准，该系列黑体主体由低黑体与高温黑体构成。中温辐射头为DMD像面提供目标高温红外辐射能量，低温辐射头为DMD像面提供背景低温红外辐射能量。
广泛应用在红外探测器的研制过程中的工艺测试和鉴定试验的技术指标测试中，同时，作为红外成像校准装置的核心设备，配合红外准直光学系统和红外靶标，完成红外成像系统等关键技术指标测试和性能评估。还可以配合红外靶标和平行光管，从而实现一系列测试：NETD、时间噪声、固定图案噪声、MTF、FOV、失真、空间分辨率、MRTD、TOD等测试需求。
广泛应用在红外探测器的研制过程中的工艺测试和鉴定试验的技术指标测试中，同时，作为红外成像校准装置的核心设备，配合红外准直光学系统和红外靶标，完成红外成像系统等关键技术指标测试和性能评估。还可以配合红外靶标和平行光管，从而实现一系列测试：NETD、时间噪声、固定图案噪声、MTF、FOV、失真、空间分辨率、MRTD、TOD等测试需求。
SC-YTE-D中系列技术参数表
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型号 |
低温辐射头 |
中温辐射头 |
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Aperture |
10mm~200mm（可选） |
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Absolute temp.range，℃ |
(环境温度 20°C ) |
（环境温度 20°C） |
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Uniformity，℃（1） |
低温辐射头@中心区域的80%：± 1.5% (T黑体温度 - TAMB)
高温辐射头@中心区域的80%：± 0.008 T黑体温度 |
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Set point&readout resolution，℃ |
0.001℃/0.0001℃可选 |
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Temperature accuracy（2） |
±0.1°C |
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Stability℃ |
±0.1℃ |
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Enissivity |
发射率/ 校准后表面 平面≥ 0.95/1.00；V型槽面≥0.985 / 1.00 |
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应用案例
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